♦ Các chỉ số kỹ thuật:
- Phân tích được nhiều lớp, 1 đến 5 lớp;
- Độ chính xác kiểm tra: 0,001 μm;
- Phân tích nguyên tố từ Nhôm (Al) đến Uranium (U);
- Thời gian đo: 10 ~ 30 giây;
- Máy dò SDD với độ phân giải năng lượng 125 ± 5eV;
- Cửa sổ Be của máy là 0.5mil (12.7μm);
- Ống tia X Microfocus 50kV / 1mA, molypden, rhodium target (đích cao cấp microfocus molypden);
- 6 ống chuẩn trực và chuyển đổi tự động nhiều bộ lọc;
- Camera CCD độ nét cao (2 triệu điểm ảnh), vị trí giám sát chính xác;
- Phù hợp đường cong giải mã phi tuyến đa biến;
- Phân tích FP / MLSQ hiệu suất cao;
- Kích thước dụng cụ: 450 × 520 × 385mm.
♦ Đặc điểm và công dụng:
- Máy phân tích lớp phủ kim loại iEDX-100T sử dụng buồng chứa mẫu không chân không;
- Máy được sử dụng chuyên nghiệp để phân tích độ dày lớp phủ và phân tích lớp phủ mạ điện kim loại;
- Máy có thể bổ sung phân tích thành phần hợp kim và các chức năng RoHS;
- Máy được sử dụng trong lĩnh vực phân tích lớp phủ mạ điện kim loại.
♦ Lĩnh vực ứng dụng:
Máy phân tích lớp phủ kim loại iEDX-100T được sử dụng trong lĩnh vực phân tích lớp mạ kim loại.
♦ Giao diện đồ thị:
- Phần mềm hỗ trợ phân tích tiêu chuẩn miễn phí;
- Bệ phân tích và buồng mẫu rộng;
- Giao diện tích hợp phân tích lớp phủ và phân tích thành phần hợp kim;
- Áp dụng nhiều kỹ thuật phân tích và xử lý phù hợp quang phổ;
- Phân tích đo độ dày lớp phủ có thể đạt 0,001μm.
♦ Kết quả báo cáo phân tích:
- In báo cáo phân tích trực tiếp;
- Báo cáo có thể được chuyển đổi sang định dạng PDF, EXCEL.
Xem thêm