PHÂN TÍCH THÀNH PHẦN KIM LOẠI BẰNG MÁY QUANG PHỔ HUỲNH QUANG TIA X (XRF)

 Máy Quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) là gì?

Máy quang phổ huỳnh quang tia X (X-ray fluorescence spectrometrers –XRF) là thiết bị sử dụng tia X để đo lường, phân tích thành phần và hàm lượng của kim loại nặng trên vật mẫu.

     Máy hoạt động dựa trên các nguyên tắc quang phổ tán sắc theo bước sóng tương tự như một bộ vi điện tử (EPMA). 

• Nguyên lý hoạt động của máy Quang phổ huỳnh quang tia X (XRF)

     Máy Quang phổ huỳnh quang tia X (máy XRF) sử dụng tia X chiếu lên bề mặt vật mẫu, vật mẫu sẽ phản xạ lại tia X đến bộ phận cảm biến, các nguyên tố trong mẫu sẽ phát ra tín hiệu và cường độ huỳnh quang khác nhau. Sau khi tính toán và phân tích bởi các phần mềm được cài đặt sẵn, kết quả sẽ được hiển thị đồng thời sự có mặt của các thành phần nguyên tố có trong mẫu phân tích.

Máy XRF không đòi hỏi phải phá hủy mẫu, không cần can thiệp chất hóa học trong khi phân tích, mẫu vật sau quá trình khai thác hoặc sản xuất có thể phân tích ngay, giúp đảm bảo tính chính xác, kịp thời và độ tin cậy của kết quả.

Mô phỏng nguyên lý hoạt động của máy Quang phổ huỳnh quang tia X

• Ứng dụng của máy Quang phổ huỳnh quang tia X:

Máy XRF được sử dụng trong nhiều ứng dụng, bao gồm:

- Kiểm soát chất lượng trong sản xuất kim loại;

- Nhận dạng hợp kim;

- Phân loại phế liệu kim loại;

- Thăm dò và khai thác địa chất;

- Thử nghiệm các vật liệu công nghiệp;

- Công nghiệp dầu khí (ví dụ, hàm lượng lưu huỳnh trong dầu thô và các sản phẩm dầu mỏ);

- Kiểm định các chỉ tiêu của RoHS…

Đặc biệt trong ngành sản xuất và gia công xi mạ, cũng như ngành sản xuất nữ trang, chất lượng của lớp mạ phụ thuộc rất nhiều vào thành phần kim loại trong dung dịch mạ. Vì vậy việc kiểm soát hàm lượng kim loại thường xuyên là rất cần thiết.

 Phân tích kim loại bằng máy quang phổ huỳnh quang tia X được thực hiện đơn giản từ khâu chuẩn bị mẫu đến thao tác thực hiện, cho kết quả chính xác.

Hình ảnh minh họa Bảng phân tích kết quả mẫu vật bằng máy XRF.