Thiết bị kiểm tra, phân tích độ dày và thành phần lớp mạ, kính hiển vi điện tử quét

MẠ ĐIỆN

Ngành công nghiệp hoàn thiện kim loại ngày càng đóng vai trò to lớn trong các lĩnh vực cơ khí, điện tử - chất bán dẫn, nữ trang – kim hoàn. Độ dày và thành phẩn lớp mạ; phải nằm trong phạm vi thông số kỹ thuật  tùy thuộc vào mục đích sử dụng; là yếu tố quan trọng liên quan đến các chức năng của sản phẩm như bảo vệ kim loại, tính thẩm mỹ, độ dẫn điện - nhiệt cũng như liên quan đến lợi nhuận của doanh nghiệp. Vì vậy, việc theo dõi và kiểm soát dộ dày và thành phần lớp mạ là bắt buộc, quyết định chức năng, hình thức và giá thành của sản phẩm cuối cùng.

THIẾT BỊ KIỂM TRA LỚP MẠ N-CHEM CUNG CẤP

Phép đo độ dày và phân tích vật liệu lớp phủ dựa trên huỳnh quang tia X (XRF) là một kỹ thuật phân tích được chấp nhận rộng rãi và đã được chứng minh trong ngành, cung cấp phân tích dễ sử dụng, nhanh chóng và không phá hủy, có khả năng phân tích chất rắn hoặc chất lỏng trong một dải nguyên tố rộng từ Al¹³ đến  U⁹² trong bảng tuần hoàn.

N-CHEM cung cấp thiết bị kiểm tra phân tích dộ dày và thành phần lớp mạ, kính hiển điện tử quét là sản phẩm hợp tác nghiên cứu phát triển bởi ISP Co., Ltd - Hàn Quốc và Sense Electronic Technology Co. Ltd - Trung Quốc.

• Công nghệ huỳnh quang tia X (XRF) được ISP và Sense bản địa hóa, do đó N-CHEM có thể cung cấp cho khách hàng dịch vụ hậu mãi tốt nhất và đặc biệt là giá thành hấp dẫn hơn so với các sản phẩm của Châu Âu hay Mỹ.
• Phần mềm đi kèm sử dụng tiếng Anh và Hoa thân thiện với người sử dụng. Cơ sở dữ liệu được tích hợp sẵn các lớp mạ như Nikel, Crom, Cu, Zn, anod Nhôm, Brass, Cu/Zn, Cu/Sn/Zn, Au/Ni/xx, Ag/Ni/xx, Cr/Fe, Zn/Fe, Zn-Ni/Fe, Cr/Ni/Cu, Cr/Ni/Cu/Zn, Au/Ni/Cu/Fe, Au/Ni/Cu/Zn, Ag/Ni/Cu/Fe, Ni/Al, Ni/Cu, Ag/Ceramic, Sn/Ni/Cu/Al, Rh/Ni/Cu, Pd/Ni/Cu, Au/Ni/Cu, Ag/Ni/Cu, Pt/Ni/Cu ... và luôn cập nhật thêm.
• Thao tác một chạm, các thiết bị đã được hiệu chuẩn sẵn. Khách hàng có thể sử dụng ngay sau 15 (mười lăm) phút được kỹ thuật viên N-CHEM hướng dẫn

THIẾT BỊ XRF

KÍNH HIỂN VI ĐIỆN TỬ QUÉT